不给知道我是谁
手机显示存储卡异常的原因和处理方式：
1、存储卡识别异常
处理方法：关机重启，让系统重新识别即可。
2、存储卡松动或氧化
处理方法：取出存储卡，取出表面氧化物后重新安装，如有松动，则使用小纸片加固，然后重新安装即可。
3、存储卡故障
处理方法：更换一张存储卡即可。
手机储存指手机本自身带的储存空间。这个空间是用来存放文件的，像音乐文件，图片文件，文本文件等等。这个相当于你插的内存卡，只不过这个内存卡是直接“粘”在你手机内的。不能像内存卡那样可以拆下来作它用。准确地说我们常说的运存就是指内存（在电计算机术语里，运存就直接称为内存，但是在手机上我们常说内存卡的内存有多大，这个内存实际指的不是运行内存，而是指这个内存卡的容量，和上面的手机储存是一样的，可以统称为外存。只不过内存卡可以拆下来），这也是手机的储存空间，这个是随机储存器英文ram，不能像上面说的手机储存那样断电后存放的东西不会消失，放在这里面的东西你的手机重启后就会没有了。当然用户是不能存放东西在这里面的。你不能对这一块的内存进行操作。
豆丫丫星
电脑故障诊断卡代码大全00 . 已显示系统的配置；即将控制INI19引导装入。 . 01 处理器测试1，处理器状态核实,如果测试失败，循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始，不可屏蔽中断即将停用。 CPU寄存器测试正在进行或者失败。 02 确定诊断的类型（正常或者制造）。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断；通过延迟开始。 CMOS写入／读出正在进行或者失灵。 03 清除8042键盘控制器，发出TESTKBRD命令（AAH）通电延迟已完成。 ROM BIOS检查部件正在进行或失灵。 04 使8042键盘控制器复位，核实TESTKBRD。 键盘控制器软复位／通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。 05 如果不断重复制造测试1至5，可获得8042控制状态。 已确定软复位／通电；即将启动ROM。 DMA初如准备正在进行或者失灵。 使电路片作初始准备，停用视频、奇偶性、DMA电路片，以及清除DMA电路片，所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS检查总和，以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA初始页面寄存器读／写测试正在进行或失灵。 07 处理器测试2，核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常，键盘缓冲器已清除，向键盘发出BAT（基本保证测试）命令。 . 08 使CMOS计时器作初始准备，正常的更新计时器的循环。 已向键盘发出BAT命令，即将写入BAT命令。 RAM更新检验正在进行或失灵。 09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。 核实键盘的基本保证测试，接着核实键盘命令字节。第一个64K RAM测试正在进行。 0A 使视频接口作初始准备。 发出键盘命令字节代码，即将写入命令字节数据。第一个64K RAM芯片或数据线失灵，移位。 0B 测试8254通道0。 写入键盘控制器命令字节，即将发出引脚23和24的封锁／解锁命令。第一个64K RAM奇／偶逻辑失灵。 0C 测试8254通道1。 键盘控制器引脚23、24已封锁／解锁；已发出NOP命令。第一个64K RAN的地址线故障。 0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。 2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、视频通道测试，如果失败，则鸣喇叭.已处理NOP命令；接着测试CMOS停开寄存 器。 第一个64K RAM的奇偶性失灵 0E 测试CMOS停机字节。 CMOS停开寄存器读／写测试；将计算CMOS检查总和。初始化输入／输出端口地址。 0F 测试扩展的CMOS。 已计算CMOS检查总和写入诊断字节；CMOS开始初始准备。 . 10 测试DMA通道0。 CMOS已作初始准备，CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。第一个64K RAM第0位故障。 11 测试DMA通道1。 CMOS状态寄存器已作初始准备，即将停用DMA和中断控制器。第一个64DK RAM第1位故障。 12 测试DMA页面寄存器。 停用DMA控制器1以及中断控制器1和2；即将视频显示器并使端口B作初始准备。第一个64DK RAM第2位故障。 13 测试8741键盘控制器接口。 视频显示器已停用，端口B已作初始准备；即将开始电路片初始化／存储器自动检测。第一个64DK RAM第3位故障。 14 测试存储器更新触发电路。 电路片初始化／存储器处自动检测结束；8254计时器测试即将开始。第一个64DK RAM第4位故障。 BF 测试开头64K的系统存储器。 第2通道计时器测试了一半；8254第2通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第5位故障。 16 建立8259所用的中断矢量表。 第2通道计时器测试结束；8254第1通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第6位故障。 17 调准视频输入／输出工作，若装有视频BIOS则启用。 第1通道计时器测试结束；8254第0通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第7位故障。 18 测试视频存储器，如果安装选用的视频BIOS通过，由可绕过。第0通道计时器测试结束；即将开始更新存储器。 第一个64DK RAM第8位故障。 19 测试第1通道的中断控制器（8259）屏蔽位。 已开始更新存储器，接着将完成存储器的更新。第一个64DK RAM第9位故障。 1A 测试第2通道的中断控制器（8259）屏蔽位。 正在触发存储器更新线路，即将检查15微秒通／断时间。第一个64DK RAM第10位故障。 1B 测试CMOS电池电平。 完成存储器更新时间30微秒测试；即将开始基本的64K存储器测试。第一个64DK RAM第11位故障。 1C 测试CMOS检查总和。 . 第一个64DK RAM第12位故障。 1D 调定CMOS配置。 . 第一个64DK RAM第13位故障。 1E 测定系统存储器的大小，并且把它和CMOS值比较。 . 第一个64DK RAM第14位故障。 1F 测试64K存储器至最高640K。 . 第一个64DK RAM第15位故障。 20 测量固定的8259中断位。 开始基本的64K存储器测试；即将测试地址线。从属DMA寄存器测试正在进行或失灵。 21 维持不可屏蔽中断（NMI）位（奇偶性或输入／输出通道的检查）。通过地址线测试；即将触发奇偶性。 主DMA寄存器测试正在进行或失灵。 22 测试8259的中断功能。 结束触发奇偶性；将开始串行数据读／写测试。主中断屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。 23 测试保护方式8086虚拟方式和8086页面方式。 基本的64K串行数据读／写测试正常；即将开始中断矢量初始化之前的任何调节。从属中断屏蔽存器测试正在进行或失灵。 24 测定1MB以上的扩展存储器。 矢量初始化之前的任何调节完成，即将开始中断矢量的初始准备。设置ES段地址寄存器注册表到内存高端。 25 测试除头一个64K之后的所有存储器。 完成中断矢量初始准备；将为旋转式断续开始读出8042的输入／输出端口。装入中断矢量正在进行或失灵。 26 测试保护方式的例外情况。 读出8042的输入／输出端口；即将为旋转式断续开始使全局数据作初始准备。开启A20地址线；使之参入寻址。 27 确定超高速缓冲存储器的控制或屏蔽RAM。 全1数据初始准备结束；接着将进行中断矢量之后的任何初始准备。键盘控制器测试正在进行或失灵。 28 确定超高速缓冲存储器的控制或者特别的8042键盘控制器。 完成中断矢量之后的初始准备；即将调定单色方式。 CMOS电源故障／检查总和计算正在进行。 29 . 已调定单色方式，即将调定彩色方式。 CMOS配置有效性的检查正在进行。 2A 使键盘控制器作初始准备。 已调定彩色方式，即将进行ROM测试前的触发奇偶性。置空64K基本内存。 2B 使磁碟驱动器和控制器作初始准备。 触发奇偶性结束；即将控制任选的视频ROM检查前所需的任何调节。屏幕存储器测试正在进行或失灵。 2C 检查串行端口，并使之作初始准备。 完成视频ROM控制之前的处理；即将查看任选的视频ROM并加以控制。屏幕初始准备正在进行或失灵。 2D 检测并行端口，并使之作初始准备。 已完成任选的视频ROM控制，即将进行视频ROM回复控制之后任何其他处理的控制。屏幕回扫测试正在进行或失灵。 2E 使硬磁盘驱动器和控制器作初始准备。 从视频ROM控制之后的处理复原；如果没有发现EGA／VGA就要进行显示器存储器读／写测试。检测视频ROM正在进行。 2F 检测数学协处理器，并使之作初始准备。 没发现EGA／VGA；即将开始显示器存储器读／写测试。 . 30 建立基本内存和扩展内存。 通过显示器存储器读／写测试；即将进行扫描检查。认为屏幕是可以工作的。 31 检测从C800：0至EFFF：0的选用ROM，并使之作初始准备。显示器存储器读／写测试或扫描检查失败，即将进行另一种显示器存储器读／写测试。 单色监视器是可以工作的。 32 对主板上COM／LTP／FDD／声音设备等I／O芯片编程使之适合设置值。通过另一种显示器存储器读／写测试；却将进行另一种显示器扫描检查。 彩色监视器（40列）是可以工作的。 33 . 视频显示器检查结束；将开始利用调节开关和实际插卡检验显示器的关型。彩色监视器（80列）是可以工作的。 34 . 已检验显示器适配器；接着将调定显示方式。 计时器滴答声中断测试正在进行或失灵。 35 . 完成调定显示方式；即将检查BIOS ROM的数据区。 停机测试正在进行或失灵。 36 . 已检查BIOS ROM数据区；即将调定通电信息的游标。门电路中A－20失灵。 37 . 识别通电信息的游标调定已完成；即将显示通电信息。 保护方式中的意外中断。 38 . 完成显示通电信息；即将读出新的游标位置。 RAM测试正在进行或者地址故障＞FFFFH。 39 . 已读出保存游标位置，即将显示引用信息串。 . 3A . 引用信息串显示结束；即将显示发现
深夜黑暗厨房
开机自检时出现问题后会出现各种各样的英文短句，短句中包含了非常重要的信息，读懂这些信息可以自己解决一些小问题，可是这些英文难倒了一部分朋友，下面是一些常见的BIOS短句的解释，大家可以参考一下。 jgLV4uF`3n 1.CMOS battery failed 中文：CMOS电池失效。 解释：这说明CMOS电池已经快没电了，只要更换新的电池即可。 2.CMOS check sum error-Defaults loaded 中文：CMOS执行全部检查时发现错误，要载入系统预设值。 解释：一般来说出现这句话都是说电池快没电了，可以先换个电池试试，如果问题还是没有解决，那么说明CMOS RAM可能有问题，如果没过一年就到经销商处换一块主板，过了一年就让经销商送回生产厂家修一下吧！ lm+~l 3.Press ESC to skip memory test 中文：正在进行内存检查，可按ESC键跳过。 解释：这是因为在CMOS内没有设定跳过存储器的第二、三、四次测试，开机就会执行四次内存测试，当然你也可以按ESC键结束内存检查，不过每次都要这样太麻烦了，你可以进入COMS设置后选择BIOS FEATURS SETUP，将其中的Quick Power On Self Test设为Enabled，储存后重新启动即可。 4.Keyboard error or no keyboard present 中文：键盘错误或者未接键盘。 解释：检查一下键盘的连线是否松动或者损坏。 5.Hard disk install failure 中文：硬盘安装失败。解释：这是因为硬盘的电源线或数据线可能未接好或者硬盘跳线设置不当。你可以检查一下硬盘的各根连线是否插好，看看同一根数据线上的两个硬盘的跳线的设置是否一样，如果一样，只要将两个硬盘的跳线设置的不一样即可(一个设为Master，另一个设为Slave)。 6.Secondary slave hard fail 中文：检测从盘失败 解释：可能是CMOS设置不当，比如说没有从盘但在CMOS里设为有从盘，那么就会出现错误，这时可以进入COMS设置选择IDE HDD AUTO DETECTION进行硬盘自动侦测。也可能是硬盘的电源线、数据线可能未接好或者硬盘跳线设置不当，解决方法参照第5条。 7.Floppy Disk(s) fail或Floppy Disk(s) fail(80)或Floppy Disk(s) fail(40) 中文：无法驱动软盘驱动器。 解释：系统提示找不到软驱，看看软驱的电源线和数据线有没有松动或者是接错，或者是把软驱放到另一台机子上试一试，如果这些都不行，那么只好再买一个了，好在软驱还不贵。 8.Hard disk(s) diagnosis fail 中文：执行硬盘诊断时发生错误。 解释：出现这个问题一般就是说硬盘本身出现故障了，你可以把硬盘放到另一台机子上试一试，如果问题还是没有解决，只能去修一下了。 9.Memory test fail 中文：内存检测失败。 解释：重新插拔一下内存条，看看是否能解决，出现这种问题一般是因为内存条互相不兼容,去换一条吧！ 10.Override enable-Defaults loaded 中文：当前CMOS设定无法启动系统，载入BIOS中的预设值以便启动系统。 解释：一般是在COMS内的设定出现错误，只要进入COMS设置选择LOAD SETUP DEFAULTS载入系统原来的设定值然后重新启动即可。
