测厚仪英文

市场上主要有磁性测厚仪、涡流测厚仪、超声波测厚仪、电解测厚仪、放射线测厚仪、激光测厚仪等六种。涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下类型：

磁性测厚法：适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢、铁、银、镍。此种方法测量精度高。磁性测厚仪原理：采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。

涡流测厚法：适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低。

CAL的是英文校准的缩写，也就是校准的意思涂层测厚仪校准一般要用到没有涂层的零板和标准厚度片上海耀壮公司专业销售涂层测厚仪，涂层测厚仪又叫油漆测厚仪，漆膜测厚仪，镀层测厚仪

测厚仪（thickness gauge）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。

分类：接触式测厚仪，按接触面积大小划分：点接触式测厚仪，面接触时测厚仪。非接触式测厚仪，按测试原理划分：激光测厚仪，超声波测厚仪，涂层测厚仪，X射线测厚仪，白光干涉测厚仪，电解式测厚仪，管厚规。

技术标准：HG/T 3240-1987搪瓷测厚仪技术条件，HG/T 3240-2007电脑膜层测厚仪HG/T 3241-1989内孔涂层测厚仪技术条件，HG/T 3241-2007电脑内孔膜层测厚仪，JJF 1126-2004超声波测厚仪校准规范，JJG（轻工）87-1992便携式地毯测厚仪检定规程，JJG403-1986超声波测厚仪，JJG480-1987X射线测厚仪检定规程，JJG818-1993电涡流式测厚仪（试行），JJG889-1995，磁阻法测厚仪NJ372-1985轮辋用测厚仪，ZBN13003-1987搪瓷测厚仪技术条件，ZBN77001-1989超声测厚仪通用技术条件。

注意事项/测厚仪：在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。测量时侧头与试样表面保持垂直。测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。

激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，沧州欧谱从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，沧州欧谱当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。