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这有一个一睹 地址，你看看吧，应该可以帮助到你的！标准编号:GB/T 2423.4-2008标准名称:电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db 交变湿热（12h＋12h循环）标准状态:现行英文标题:Environmental testing for electric and electronic products - Part 2: Test method - Test Db: Damp heat，cyclic ( 12h+12h cycle)替代情况:替代GB/T 2423.4-1993实施日期:2009-1-1颁布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会内容简介:本部分为GB/T 2423的第4部分，是对GB/T 2423.4-1993的修订。本部分适用于确定件、设备或其他产品在高湿度与温度循环变化组合且通常会在试验样品表面产生凝露的条件下使用、运输和贮存的适应性。本部分代替GB／T2423．4—1993，与其相比，主要不同之处有：———图2改为图2a）和图2b）；———在降温阶段中，方法2允许相对湿度和温度下降速率有较大的容差；———恢复条件相对湿度由原来的“（75±3）％”改为“（75±2）％”，温度由“实验室温度±2K”改为“实验室温度±1K”；———增加了附录A。
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低温试验箱若需夜间进行试验时，务必安排人员进行看守，以防意外。低温试验箱进行低温或湿度试验后，取出样品后，请空载运行80℃两小时，以便对向内湿度进行烘干，保护加热器等元件。 若试样是金属等吸热量较高的材质，在做完高温试验后转作低温试验时，请咨询我方服务人员的具体操作。为了保护压缩机，最好不要立刻开启冷机进行制冷。 试验是内侧仍然保持高温或低温，容易造成烫伤或冻伤。高温气体可能触发火灾。低温试验箱在运行中，除非有相当必要，请不要随便开门，将手探入试验箱内，否则可能导致下列不良后果。验室若有异常状况或焦味时应停止使用，立即检查。在制冷时开箱门，容易导致室外水汽进入试验室，导致制冷效果下降。突然的温度变化，会导致仪表参数错乱。操作低温试验箱时，请充分阅读说明书，勿随意更改仪表内部已设定参数值，以防影响设备控制精度或影响设备正常运行。低温试验箱运行时，严禁打开电气控制箱，以防止尘土入内或产生触电事故。试验结束取置物品
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电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法GB/T2423.2-2008电工电子产品基本环境试验规程试验B:高温试验方法GB/T2423.3-2006电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法GB/T2423.4-2008电工电子产品基本环境试验规程试验Db:交变湿热试验方法GB/T2423.5-1995电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ea和导则:冲击GB/T2423.6-1995电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Eb和导则:碰撞GB/T2423.7-1995电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ec和导则:倾跌与翻倒(主要用于设备型样品)GB/T2423.8-1995电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ed:自由跌落GB/T2423.9-2001电工电子产品基本环境试验规程试验Cb:设备用恒定湿热试验方法GB/T2423.10-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fc和导则:振动(正弦)GB/T2423.11-1997电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fd:宽频带随机振动—一般要求GB/T2423.12-1997电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fda:宽频带随机振动—高再现性GB/T2423.13-1997电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fda:宽频带随机振动—中再现性GB/T2423.14-1997电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fda:宽频带随机振动—低再现性GB/T2423.15-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ga和导则:稳态加速度GB/T2423.16-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验J和导则:长霉GB/T2423.17-2008电工电子产品基本环境试验规程第2部分:试验方法试验Ka;盐雾试验方法GB/T2423.18-2000电工电子产品环境试验第2部分:试验试验Kb:盐务,交变(氯化钠溶液)GB/T2423.19-1981电工电子产品基本环境试验规程试验Kc:接触点和连接件的二氧化硫试验方法GB/T2423.20-1981电工电子产品基本环境试验规程试验Kd:接触点和连接件的硫化氢试验方法GB/T2423.21-2008电工电子产品基本环境试验规程试验M:低气压试验方法GB/T2423.22-2002电工电子产品基本环境试验规程试验N:温度变化试验方法GB/T2423.23-1995电工电子产品环境试验试验Q:密封GB/T2423.24-1995电工电子产品环境试验第2部分:试验试验Sa:模拟地面上的太阳辅射GB-T2423.24-2013 环境试验 第2部分：试验方法 试验Sa：模拟地面上的太阳辐射及其试验导则 ----贴子打开.GB/T2423.25-2008电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM:低温/低气压综合试验GB/T2423.26-2008电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM:高温/低气压综合试验GB/T2423.27-2005电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验GB/T2423.28-2005电工电子产品基本环境试验规程试验T:锡焊试验方法GB/T2423.29-1999电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验U:引出端及整体安装件强度GB/T2423.30-1999电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验XA和导则:在清洗剂中浸渍GB/T2423.31-1985电工电子产品基本环境试验规程倾斜和摇摆试验方法GB/T2423.32-2008电工电子产品基本环境试验规程润湿称量法可焊性试验方法GB/T2423.33-2005电工电子产品基本环境试验规程试验Kca:高浓度二氧化硫试验方法GB/T2423.34-2005电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验方法GB/T2423.35-2005电工电子产品基本环境试验规程试验Z/Afc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验方法GB/T2423.36-2005电工电子产品基本环境试验规程试验ZBFc:散热和非散热样品的高温/振动(正弦)综合试验方法GB/T2423.37-2006电工电子产品基本环境试验规程试验L:砂尘试验方法GB/T2423.38-2005电工电子产品基本环境试验规程试验R:水试验方法GB/T2423.39-2008电工电子产品基本环境试验规程试验Ee:弹跳试验方法GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热GB/T2423.41-1994电工电子产品基本环境试验规程风压试验方法GB/T2423.42-1995电工电子产品环境试验低温/低气压/振动(正弦)综合试验方法GB/T2423.43-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法元件\设备和其它产品在冲击(Ea)、碰撞（Eb）、振动（Fc和Fd）和稳态加速度（Ga）等动力学试验中的安装要求和导则GB/T2423.44-1995电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Eg：撞击弹簧锤GB/T2423.45-1997电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z/ABDM：气候顺序GB/T2423.46-1997电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ef：撞击摆锤GB/T2423.47-1997电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fg：声振GB/T2423.48-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ff：振动---时间历程法GB/T2423.49-1997电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fe：振动---正弦拍频法GB/T2423.50-1999电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Cy：恒定湿热主要用元件的加速试验GB/T2423.51-2000电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ke：流动混合气体腐蚀试验GB/T2423.52-2003电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验77：结构强度与撞击GB/T2423.53-2005电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验xb：由手摩擦造成标记和印刷文字的磨损GB/T2423.54-2005电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Xc：流体污染GB/T2423.55-2006电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验eh：锤击试验GB/T2423.56-2006电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fh：宽带随机动动（数字控制）和导则GB/T2423.57-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ei：冲击-冲击响应谱合成GB/T2423.58-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fi：振动-混合模式GB/T2423.59-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z-Abmh：温度（低温，高温），低气压，振动（随机）综合GB/T2423.60-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验U：引出端及整体安装件强度GB/T2423.101-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验：倾斜和摇摆GB/T2423.102-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验：温度（低温，高温），低气压，振动（正弦）综合
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